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11-01
【公告】FE-SEM暫停服務

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儀器

理學大樓 理112室

X光光電子能譜儀 (XPS)

X-ray Photoelectron Spectroscopy
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多功能微區X光薄膜繞射儀(D8-XRD)

Multipurpose X-Ray Thin-Film Micro Area Diffractometer
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S3400N掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀(S3400-SEM)

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S3000N高解晰可變真空掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (S3000N-SEM)

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高解析比表面積分析儀 (ASAP/BET)

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紅外線光譜儀(PE-FTIR)

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雷射粒徑暨界達電位分析儀 (PSA)

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高解析多功能掃描式探針顯微鏡 (SPM/AFM)

Ｍultimode Scanning Probe Microscope
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理114

熱機械分析儀(TMA)

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理113

調幅式示差掃描分析儀(TA-MDSC)

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理114室

熱重分析儀(TA-TGA)

Thermogravimetric Analysis
儀器

理113

示差掃描量熱-熱重分析聯用(TA-SDT)

Simultaneous DSC-TGA
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理113

感應耦合電漿光譜儀 (ICP-OES)

Inductively Coupled Plasma Optima Optical Emission Spectrometer
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理113

微波消化系統 (MW)

Microwave Lab Station
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全反射X射線螢光光譜儀(XRF)

Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometer
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倒立螢光顯微鏡(NIFM)

Inverted Fluorescence Microscopy
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資424

雙面光罩對準曝光儀(Aligner)

Double Side Mask Aligner
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資424

熱阻式蒸鍍系統 (TE)

Thermal Evaporation Coater
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理112

液態氮(LN2)

Liquid Nitrogen