Forgot PASSWORD忘記密碼

banner

冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (FE-SEM)

簡稱 FESEM
機台編號 PISC019
中文名稱 冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (FE-SEM)
英文名稱 Cold Field Emission Scanning Electron Microscope and Energy Dispersive Spectrometer
功能說明 1.試樣二次電子(SE)表面型態分析及觀察。 2.E×B低加速電壓的SE+BSE影像觀察查。 3.E×B低加速電壓的BSE影像觀察查。 4.試片表面的元素分析,可提供的資訊為: (a)表面元素半定量/定性分析,分析元素範圍B(5)~U(92)。 (b)點線面半定量/定性分析及分佈型態分析(Linescan) 。 (c)材料表面元素分佈型態分析(Mapping)。
儀器服務項目 1.二次電子(SE)影像觀察。 2.E×B的SE+BSE影像觀察。 3.樣品元素定性、半定量分析及Mapping及Line scan。 4.影像光碟製作。 5.試樣鍍金。
儀器購置日期 2005-06-01 00:00:00
儀器購置金額 0
儀器廠牌 日本HITACHI
型號 S-4800
儀器規格 1.電子槍(Electron Gun):冷陰極場發射式 2.加速電壓:0.5~30kV 3.Secondary electron Image Resolution 二次電子影像解析度 1.0nm gu
主要配件,配件 1.能量散佈光譜儀:Bruker XFlash® 6 | 30 ,分析元素範圍B(5)~U(92)。 2.HITACHI E-1010 ION SPUTTER :白金靶材。
儀器放置位置 理114
注意事項 1.未曾於本中心室進行實驗之人員,請先電話聯繫,確定樣品處理方式。 2.樣品送測前,請確定樣品已乾燥完成。 3.如為高分子材料、磁性材料或粉體試片,請預先告知作為判定樣品處理方式之說明。 4.本儀器設備不接受揮發性材料。 5.樣品最大請勿超過10mm×10mm×10mm。