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高解析多功能掃描式探針顯微鏡 (SPM/AFM)

簡稱 SPM
機台編號 PISC012
中文名稱 高解析多功能掃描式探針顯微鏡 (SPM/AFM)
英文名稱 Multimode Scanning Probe Microscope
功能說明 材料表面型貌及物理特性(排斥力、吸引力、黏附力,摩擦力、磁力…等)量測分析。
儀器服務項目 (1).原子力顯微鏡:Contact Mode AFM;Non-Contact Mode AFM;Tapping Mode AFM。 (2).LifeMode Operation:MFM;EFM。 (3).機械力性質量測:LFM;AFM;Phase Imaging operation;單點式力場曲線;全面式力場曲線。 (4).其他應用:CAFM;STM。 (5).奈米級刻版術及操控術:手
儀器購置日期 2003-12-18 00:00:00
儀器購置金額 0
儀器廠牌 德國Digital Instrument NS4/D3100CL/MultiMode
型號 NS4/D3100CL/MultiMode
儀器規格 1.最大掃描面積:90μm’90μm×6μm。 2.最大橫向解析度:A LEVEL。 3.最大垂直解析度:0.1A。
主要配件,配件
儀器放置位置 理111
注意事項 1.試片尺寸:Max.150mm×150mm,厚度25mm。 2.表面盡量避免污染,減少塵粒的沾附,應保持試片乾淨。 3.試片準備以不超過2星期為宜。